2026年4月1日-3日，ICDT 2026国际显示技术大会在重庆国际博览中心盛大启幕，作为全球显示领域极具影响力的行业盛会与技术风向标，大会深度聚焦Micro-LED、Micro-oled、AR/VR等新型显示前沿方向，汇聚全球产业链核心力量，共探显示技术从基础研究到产业落地的全链路突破路径。
当前，Micro-LED、Micro-oled等新型显示技术持续突破，面板显示产业迎来新一轮技术革新，并以此为核心动能，有力推动AR/VR显示终端加速迭代与场景落地，全制程、高精度、高效率检测解决方案成为产业核心需求。
深耕显示量检测领域，精测电子携新型显示量检测解决方案、智能检测设备及精密检测仪器强势登陆，全方位展现新型显示量检测领域全栈技术实力和完整产品布局，为客户提供行业领先的一站式量检测技术服务。
基于全栈自研 “光机电算软” 一体化技术平台，精测电子全新推出新型显示量检测解决方案，构建从晶圆电测分选、精密仪器光电测试、近眼显示到成品性能验证的全流程量检测能力。
通过AI与量检测深度融合，实现像素级颜色管理、高精度光谱分析及外观缺陷智能判定，形成全链路数据闭环，不仅可满足显示面板及AR/VR量产产线对良率与生产节拍的高标准需求，更为未来半导体显示与柔性形态显示器件的量检测需求，提供具备高度扩展性的技术平台，助力新型显示前沿技术的产业化落地。
探针台ATE测试设备
具备对晶圆测试和分BIN能力，内部有可扩展、大电流DPS板卡和高集成度的数字PE板卡，支持4~12寸Micro-LED/Micro-oled晶圆测试，搭配主流Prober，实现自动化测试，大幅提升测试效率。
探针台AOI检测设备
集合自主开发的高精度分光光谱仪、信号发生器、高精度PU压接，具备恒温高精度优势，可实现光谱与亮度缺陷的同步检测，兼顾检测精度与效率，保障了晶圆级良率与质量一致性，用于Micro-LED/Micro-oled 4/6/8/12寸晶圆的点灯AOI/光谱测试设备。
Gamma校准设备
搭配自主研发信号发生器、高精度探头和高速算法，采用高度集成化设计，兼具调测效率高、校准精准度高的核心优势，全方位满足客户产品全域校准的Auto Gamma功能，确保校准的效率与校准后的效果。
SLT AOI检测设备
作为微型显示器Micro-LED模组产品的自动AOI/DeMura的批量生产整体解决方案，搭载全自动取Tray上料，标准化、高集成设计并兼容市面上所有产品尺寸范围，检出率、产能与精准度优势显著，创新采用批量多工位设计，大幅提升模组检测的规模化效率。
NED AOI检测设备
搭载自研NED仪器与镜头，集自动压接系统、信号发生器、软件、算法等系统于一体，可实现缺陷检测、显示性能量测、动态虚像距判定等多重功能，一站式满足多元化检测需求，用于AR/VR核心模组AR Projector/VR Pancake以及AR/VR终端产品自动化光学性能检测。
精测电子深度集成显示颜色测量技术、图像均匀性校准技术、高速数据处理技术、电性测试技术等核心能力，自研多款高端精密检测仪器，实现从传统显示到新型显示产线与实验室的全领域、全应用、全场景量检测服务覆盖。
本次展会，精测电子重磅推出ISPM-MRGB-61多点光谱增强色度计、TVCM-03X多视角光谱测量仪、TCM-03N 近眼显示高精度光谱仪、NED-CF-151近眼显示滤镜式色度计、NED-MRGB-151+V3.1 近眼显示成像式光谱仪等智能光学仪器产品，攻克视角测量光谱偏移导致测量误差、多分区测量光谱失配等行业痛点，实现产品亮色度、光谱数据、视角、Gamma调测、颜色均一性等测量，并系统展示多款精密光学/电学仪器，为复杂环境下的检测提供高效可靠的解决方案。
本次ICDT 2026十周年特别盛会上，精测电子依托深度协同能力、生态共建成果以及在新型显示检测领域的持续创新、卓越的产品性能和突出的产业价值，斩获SID中国区显示行业奖(CDIA)及I-ZONE专区创新奖等多个重磅奖项。
凭借十年以来对ICDT大会的鼎力支持与在显示产业领域的卓越技术贡献，精测电子荣获“ICDT展会十周年卓越合作伙伴奖”，与产业链伙伴一同见证中国显示产业的高质量发展。
精测电子此次获奖，既是行业对其技术实力与产品竞争力的高度认可，也进一步彰显了其在全球显示检测领域的领先地位。
展会期间，精测电子高级产品总监江宝焜先生与X-Lab资深研究专家刘璐宁博士分别带来两场专业技术演讲，基于精测电子的深度研究与市场实践，分享新型显示领域的前沿洞察与解决方案，展现公司在新型显示检测领域的技术前瞻性与研发实力。
江宝焜先生发表《Innovative Inspection Technology for Advanced Micro Display》主题演讲，演讲聚焦CMOS Micro-LED产业化量产阶段量检测行业痛点，针对晶圆电性测试、晶圆光学点灯检测、模组光电调校缺陷筛查、AR终端整机性能标定全链条技术瓶颈，深度拆解探针台 ATE、探针台 AOI、SLT AOI、NED AOI四大核心检测设备的创新技术原理、差异化性能优势与精准应用场景；同时带来精测电子定制化、一体化、全流程智能量检测解决方案，有效提升产品良率、降低生产成本、拔高生产效率，全方面助推CMOS Micro-LED技术商业化落地与产业规模化高速发展。
刘璐宁博士带来题为《Application of an Automated Detection System for Image Transmission Performance Evaluation of AR Waveguide》的主题演讲。演讲聚焦AR光波导的图像传输质量检测需求，系统展示了精测电子自主研发的AR光波导图像传输性能自动化检测系统。该系统集成自研光机与创新光学设计，有效解决了同侧耦入耦出AR光波导检测中的结构干涉难题，构建出高效、高集成度、高自动化的测试方案，可实现对光效、MTF、均匀性、对比度等关键参数的高精度检测。该方案为AR光波导产品的研发与量产提供了坚实可靠的检测支撑，有力助推AR产业的技术迭代与规模化发展。
引领精密检测技术，共创最佳视觉体验。此次重磅亮相ICDT 2026，既是精测电子全栈检测实力的集中展现，也是深度融入全球新型显示产业生态、推动行业技术迭代的重要实践。作为国内显示量检测龙头企业，从传统显示到新型显示，精测电子已实现显示领域全制程量检测系统完整覆盖，构建从精密检测仪器、智能检测设备到行业解决方案的智能检测生态体系。
超越检测，实现主动良率管理。未来，精测电子将持续加大新型显示量检测领域的研发投入，聚焦Micro-LED、Micro-oled、AR/VR等新型显示前沿方向，不断突破高精度、高效率、高稳定性的检测技术瓶颈，深化产业链合作，以领先的制程检测和良率管理持续为显示产业发展赋能，助力全球显示产业迈向更高质量、更快速的发展新征程。